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內(nèi)建自測（Built-in Self Test）簡稱BIST，是一種在設(shè)計時在電路中植入相關(guān)功能電路用于提供自我測試功能的技術(shù)，旨在降低器件測試對自動測試設(shè)備（ATE）的依賴程度。

BIST是一種DFT（Design for Testability）技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用范圍，幾乎適用于所有電路，在半導體工業(yè)中被廣泛應(yīng)用。在DRAM中，BIST技術(shù)通常包括在電路中植入測試圖形發(fā)生電路、時序電路、模式選擇電路和調(diào)試測試電路等。

BIST技術(shù)的快速發(fā)展主要得益于ATE成本高昂和電路復雜度的增加。高度集成的電路如今被廣泛應(yīng)用，測試這些電路需要高速的混合信號測試設(shè)備。而BIST技術(shù)則通過實現(xiàn)自我測試，降低了對ATE的需求。

BIST技術(shù)還解決了許多電路無法直接測試的問題，尤其是那些沒有直接外部引腳的電路，如嵌閃。隨著未來ATE測試能力的限制，采用BIST技術(shù)成為一種趨勢，因為它能幫助測試無法直接通過外部引腳測試的電路。