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內(nèi)建自測(cè)（Built-in Self Test）簡(jiǎn)稱BIST，是一種在設(shè)計(jì)時(shí)在電路中植入相關(guān)功能電路用于提供自我測(cè)試功能的技術(shù)，旨在降低器件測(cè)試對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）的依賴程度。

BIST是一種DFT（Design for Testability）技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用范圍，幾乎適用于所有電路，在半導(dǎo)體工業(yè)中被廣泛應(yīng)用。在DRAM中，BIST技術(shù)通常包括在電路中植入測(cè)試圖形發(fā)生電路、時(shí)序電路、模式選擇電路和調(diào)試測(cè)試電路等。

BIST技術(shù)的快速發(fā)展主要得益于ATE成本高昂和電路復(fù)雜度的增加。高度集成的電路如今被廣泛應(yīng)用，測(cè)試這些電路需要高速的混合信號(hào)測(cè)試設(shè)備。而B(niǎo)IST技術(shù)則通過(guò)實(shí)現(xiàn)自我測(cè)試，降低了對(duì)ATE的需求。

BIST技術(shù)還解決了許多電路無(wú)法直接測(cè)試的問(wèn)題，尤其是那些沒(méi)有直接外部引腳的電路，如嵌閃。隨著未來(lái)ATE測(cè)試能力的限制，采用BIST技術(shù)成為一種趨勢(shì)，因?yàn)樗軒椭鷾y(cè)試無(wú)法直接通過(guò)外部引腳測(cè)試的電路。